License to Connect

Dank immenser Übertragungskapazität und niedrigem Energiebedarf dringt die optische Kommunikation in immer tiefere Schichten von Kommunikationsnetzwerken vor. Server werden über Glasfasern verbunden und auch in den Rechnern selber werden immer mehr Funktionalitäten auf das Medium Licht verlegt. Optische Komponenten auf den Siliziumhalbleitern zu platzieren und die optischen Verbindungen herzustellen sind in Produktion und Qualitätssicherung von SiPh und PIC immer wiederkehrende Prozessschritte. Häufig sind dabei transversale Toleranzen weit unter 50 nm gefordert. Präzision, Geschwindigkeit und ein hoher Automatisierungsgrad der Ausrichtung sind daher unerlässlich für Funktionalität und Kosten in der Herstellung von Siliziumphotonik Bauteilen (SiPh) und Photonisch Integrierten Schaltkreisen (PICs). Die erprobten, aktiven Alignmentsysteme von PI sind um bis zu zwei Größenordnungen schneller, als herkömmliche Methoden und helfen, diesen kritischen Prozess wirtschaftlich zu gestalten. Angefangen von der Qualitätsprüfung optischer Strukturen/Elemente auf Waferlevel bis zum finalen Zusammenbau bietet PI Komplettlösungen für unterschiedlichste Chipdesigns, Formate und Aufgaben.

Prüfung, Aufbau- und Verbindungstechnik
Physik Instrumente Photonic Packaging Chiplet
Ausrichtung ist der wichtigste Kostenfaktor für Durchsatz und Produktionskosten bei Prüfung, Aufbau und Verbindung von photonischen Bauteilen. Maximale Leistung erfordert die optimale Kombination aus Genauigkeit, Geschwindigkeit und intelligenter Automatisierung.
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Prüfung von Siliziumphotonikwafern
SiPh wafer probing
Wirtschaftliche Serienproduktion von SiPh-Komponenten erfordert automatisierte Ausrichtung mit Nanometergenauigkeit: Prüftechnik kombiniert Geschwindigkeit, Präzision und Sensorik zum Vermeiden von Kontakt zwischen Prober und Wafer, Partikelbildung oder Chipschäden.
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